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本文直接采用了对倾斜刀口成像的方法实现了光锥与CCD 耦合器件光学传递函数的测量。这种方法对静止刀口成像，利用刀口与耦合元件平均像元之间的一定倾斜角度而得到不同位置的不同值，这样代替了传统刀口扫描中的扫描，无需保证刀口与阵列的平行，相应地减小了测量误差，提高了精确度。在数据处理中对每次测量的不同位置及多次测量结果进行平均，消除了由于离散性产生的空间非平移不变性的影响。