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本文提出用粉末压片法、以二次靶偏振激发能量色散X射线荧光光谱(XRF)测定铁矿石中硫的新方法.借助C-S 800碳-硫仪分析日常铁矿石S(%)定植样为参考校正标准样,以抵消铁矿石颗粒度、矿物组成差异影响.对硫含量在0.5%~2.5%以上铁矿石分析获得满意结果.本方法作为技术储备而受到好评,国内还没见到类似文献报道.