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采用X荧光光谱法测定钛铁中Ti Si P Mn Cu,用简单的压片方法,具有准确度高及分析快速的特点.
X荧光光谱法测定钛铁中Ti、Si、P、Mn、Cu
【摘 要】
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采用X荧光光谱法测定钛铁中Ti Si P Mn Cu,用简单的压片方法,具有准确度高及分析快速的特点.
【机 构】
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中信锦州铁合金股份有限公司质检中心 锦州 中国 121005
【出 处】
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第17届全国铁合金学术研讨会
【发表日期】
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2008年5期
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