【摘 要】
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存储单元内建自测试技术(MBIST),可以很方便的通过很少的信号反映被测存储单元的结果.但是SOC芯片上可能会有许多不同类型的存储器单元,本文描述了一种可测试电路,它可以收集芯片上所有存储器单元的MBIST详细测试结果,并通过一个序列输出.这个序列中的信息既能满足工厂晶元测试时间需要,也能提供晶元修复时所需的冗余地址了本文模型及理论解的正确性。
【机 构】
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英飞凌科技(西安)有限公司, 中国 西安 710075
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存储单元内建自测试技术(MBIST),可以很方便的通过很少的信号反映被测存储单元的结果.但是SOC芯片上可能会有许多不同类型的存储器单元,本文描述了一种可测试电路,它可以收集芯片上所有存储器单元的MBIST详细测试结果,并通过一个序列输出.这个序列中的信息既能满足工厂晶元测试时间需要,也能提供晶元修复时所需的冗余地址了本文模型及理论解的正确性。
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