【摘 要】
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本文采用快速放电的方法,以聚丙烯薄膜为样品,经过不同的热处理方式,研究发现经过热处理后的样品,其放电电流谱的下降沿时间较原始样品要短。初步断定可能是由于热处理改变了样品的陷阱深度,束缚电荷容易从陷阱中脱陷形成自由载流子。实验又通过使用开路热刺激放电(thermally stimulateddischarge,TSD)电流谱分析样品陷阱深度,验证了热处理使陷阱变浅这一判断。从而提出了使用快速放电的方
【机 构】
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同济大学先进微结构材料教育部重点实验室,上海 200092 同济大学先进微结构材料教育部重点实验室
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本文采用快速放电的方法,以聚丙烯薄膜为样品,经过不同的热处理方式,研究发现经过热处理后的样品,其放电电流谱的下降沿时间较原始样品要短。初步断定可能是由于热处理改变了样品的陷阱深度,束缚电荷容易从陷阱中脱陷形成自由载流子。实验又通过使用开路热刺激放电(thermally stimulateddischarge,TSD)电流谱分析样品陷阱深度,验证了热处理使陷阱变浅这一判断。从而提出了使用快速放电的方式研究聚合物内部陷阱的新方法。
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